gemeenschappelijke slechte analyse van de beschermingsraad van de lithiumbatterij

Gemeenschappelijke slechte analyse van beschermingsraad

Eerst, kan geen vertoning, laag outputvoltage, zich niet de lading veroorloven:

Dergelijke tekorten elimineren eerst de slechte cel (de batterij heeft geen voltage of laag voltage), als de batterij slecht is, zou de zelf-consumptie van de beschermingsraad moeten worden getest om te zien of verbruikt de beschermingsraad teveel macht en het voltage van de batterij laag is. Als het celvoltage normaal is, is het omdat de volledige kring van de beschermingsraad onbereikbaar is (component het solderen, het valse solderen, slechte ZEKERING, interne kring van de PCB-raad, via gat, MOS, IC-schade, enz.). De specifieke analysestappen zijn als volgt:

(1) gebruik de zwarte meter van de multimeter om de negatieve pool van de batterij te verbinden. Het rode testlood wordt verbonden met de ZEKERING en R1-weerstanden op beide einden, Vdd, Dout, Cout-eind van IC, en het P+-eind dat (het voltage van de batterij veronderstelt is 3.8V). Deze testpunten allen zouden 3.8V moeten zijn. Als niet, is er een probleem met dit segment van de kring.

1. Er is een verandering in het voltage over ZEKERING: Test of de ZEKERING wordt aangezet. Als het wordt aangezet, is de interne kring van de PCB-raad onbereikbaar. Als het niet wordt aangezet, is er een probleem met ZEKERING (slecht materiaal, te sterke intensiteitschade (MOS of IC-controlemislukking), is Er een probleem met het materiaal (de ZEKERING wordt gebrand vóór de MOS of IC-actie), dan plotseling de draad met ZEKERING en blijft analyseren.

2. Het voltage over de R1-weerstand verandert: Test de weerstandswaarde van R1. Als de weerstandswaarde abnormaal is, kan het een virtueel soldeersel zijn, en de weerstand zelf is gebroken. Als er geen abnormaliteit in de weerstandswaarde is, kan er een probleem met de interne weerstand van IC zijn.

3. Er is een verandering in het voltage bij de IC-testterminal: de Vdd-terminal wordt aangesloten aan de R1-weerstand. Abnormale Dout en Cout zijn toe te schrijven aan het solderen of de schade van IC.

4. Als er geen verandering in het vorige voltage is, is het voltage tussen de test B en P+ abnormaal, omdat het positieve gat van de beschermingsplaat niet open is.

(b), de multimeter rode die pen met de positieve pool van de batterij, na de activering van de MOS buis wordt verbonden, wordt de zwarte testpen verbonden met MOS buis 2, 3 voet, 6, 7 voet, P-end.

1. MOS buis 2, 3 voet, 6 of 7 veranderingen van het speldvoltage, het betekenen de MOS buis abnormaal is.

2. Als het MOS buisvoltage niet verandert, is het p-Eindvoltage abnormaal, omdat het negatieve gat van de beschermingsraad niet open is.

Ten tweede, kortsluiting zonder bescherming:

1. Er is een probleem met de VM eindweerstand: de IC2-speld kan aan een multimeter en een naaldpen worden verbonden met de MOS buisspeld wordt verbonden met de VM eindweerstand wordt verbonden de weerstandswaarde te bevestigen die. Bekijk de weerstand en IC, MOS spelden heeft geen soldeerselverbindingen.

2. IC, MOS abnormaliteit: Aangezien de over--lossingsbescherming en de te sterke intensiteit en kort:sluitenbescherming een MOS buis delen, als de kort:sluitenabnormaliteit aan een probleem met MOS toe te schrijven is, zou de raad geen functie van de over--lossingsbescherming moeten hebben.

3. Bovengenoemd is een slechte voorwaarde in de normale omstandigheden, en die er kan een kortsluitingabnormaliteit zijn door slecht IC en MOS configuratie wordt veroorzaakt. Zoals in vorige bk-901, was de vertragingstijd van IC van model ‚312D‘ te lang, veroorzakend MOS of dat andere componenten worden beschadigd alvorens IC de overeenkomstige actiecontrole maakte. Nota: De gemakkelijkste en ongecompliceerde manier om te bepalen als IC of MOS een abnormaliteit hebben is een verdachte component te vervangen.

Ten derde, heeft de kortsluitingbescherming geen zelf-terugwinning:

1. IC in het ontwerp wordt gebruikt heeft zelf-terugwinnings geen functies, zoals G2J, G2Z, enz. die

2. Het instrument wordt geplaatst aan de tijd van de kort:sluitenterugwinning is te kort, of de lading wordt niet verwijderd wanneer kort:sluitentest. Als de pen van de kort:sluitentest met het dossier van het multimetervoltage wordt kortgesloten, wordt de testpen niet verwijderd uit het testeind (de multimeter is gelijkwaardig aan een lading van verscheidene megabytes).

3. De lekkage tussen P+ en P, zoals hars met onzuiverheden tussen de stootkussens, het gele plastiek met onzuiverheden of P+, p-Condensator analyse, IC Vdd aan Vss wordt opgesplitst. (De weerstand is slechts een paar K aan een paar honderd K).

4. Als er hierboven geen probleem is, kan IC worden opgesplitst en de weerstand tussen de IC-spelden kan worden getest.

Ten vierde, is de interne weerstand groot:

1. Aangezien de interne weerstand van MOS vrij stabiel is en er een grote interne weerstand is, is het eerste te verdenken ding dat de interne weerstand van ZEKERING of PTC vrij gemakkelijk is te veranderen.

2. Als de weerstand van ZEKERING of PTC normaal is, ontdekt de structuur van de beschermingsraad de weerstand van via tussen P+ en p-Stootkussen en de componentenoppervlakte, en via kan lichtjes worden gebroken en de weerstand is groot.

3. Als er geen probleem met bovengenoemd is, is het noodzakelijk om te betwijfelen of MOS abnormaal is: bepaal eerst of er om het even welk probleem met het lassen is; ten tweede, de dikte van kanban (of het gemakkelijk is te buigen), omdat het buigen de speld kan veroorzaken om abnormaal worden gelast; dan de MOS buisplaats het onder de microscoop om te zien of breekt het. Tot slot gebruik een multimeter om de weerstand van de MOS speld te testen om te zien of wordt het opgesplitst.

5. Identiteitskaart-uitzondering:

1. De identiteitskaart-weerstand zelf is abnormale toe te schrijven aan het solderen, is het breken of het weerstandsmateriaal niet gesloten: de twee einden van de weerstand kunnen re- wordengelast. Als identiteitskaart na re-last normaal is, is de weerstand het zwakke solderen. Als het gebroken is, zal de weerstand na re-last zijn gebarsten. open.

2. Identiteitskaart via is niet geleidend: u kunt beide einden van testen via met een multimeter.

3. Er is een probleem met de interne kring: het soldeersel verzet tegenzich kan worden afgeschraapt om te zien of is de interne kring losgemaakt of kortgesloten.